程序性坏死在铝致sh-sy5y细胞死亡中的作用 |
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程序性坏死在铝致sh-sy5y细胞死亡中的作用 收藏此文
全部作者 ： 牛侨 张勤丽 刘承芸 王亮
第一作者单位 ： 山西医科大学公共卫生学院
论文摘要 ： 目的 程序性坏死是2005年由袁均英教授提出的除凋亡及坏死之外的第三种细胞死亡通路。利用其特异性的阻断剂nec-1，研究者们报道了这种死亡方式在缺血性脑损伤、心肌细胞死亡及肿瘤细胞死亡中的存在。本研究的目的是探讨程序性坏死是否也存在于铝诱导的sh-sy5y细胞的死亡途径中。方法 我们培养了神经母细胞瘤细胞 (sh-sy5y)，并用不同浓度铝染毒制做铝致神经细胞死亡模型，加入不同浓度的nec-1，检测 sh-sy5y 细胞的活力、线粒体膜电位、活性氧含量及细胞的凋亡率和坏死率等。结果 研究表明，加入nec-1可以显著改善染铝后的细胞坏死样形态学改变，不同浓度nec-1可以显著提高细胞活力、显著提高线粒体膜电位、保护线粒体膜完整性及明显降低细胞染铝后的活性氧含量。流式细胞仪测定结果显示，nec-1可以显著降低 sh-sy5y 细胞的坏死率，但对其凋亡率的影响没有统计学意义。结论 用nec-1这种程序性坏死的特异阻断剂可以有效阻断铝致神经细胞的死亡通路，说明程序性坏死是导致铝神经毒性的原因之一。程序性坏死在铝致神经细胞的死亡中发挥了重要作用。
关键词 ： 程序性坏死；铝；sh-sy5y；细胞死亡
发表日期 ： 2007年11月29日
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